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Caracterización óptica de materiales semiconductores cuaternarios III-V y de baja dimensionalidad II-VI

dc.contributor.advisorVargas Hernández, Carlos
dc.contributor.advisorAriza Calderón, Hernando
dc.contributor.authorEspinosa Arbeláez, Diego Germán
dc.date.accessioned2021-01-25T15:21:14Z
dc.date.available2021-01-25T15:21:14Z
dc.date.issued2003-01-01
dc.identifier.urihttps://bdigital.uniquindio.edu.co/handle/001/5922
dc.description.abstractEl estudio desarrollado en este trabajo de grado se centra en las propiedades ópticas, utilizando la técnica de fotorreflectancia, de nuevos materiales semiconductores, que surgen bien sea porque se forman heteroestructuras con características novedosas, como los pozos cuánticos ultradelgados, o bien, de nuevas estequiometrías propuestas como los materiales cuaternariosspa
dc.description.tableofcontentsINTRODUCCIÓN 13 1 MARCO TEÓRICO 15 1.1 Diagramas de Bandas en Heteroestructuras 15 1.2 Pozo de Potencial Cuadrado 20 1.3 Técnicas de Fabricación 24 1.4 Técnicas de Caracterización 39 2 GENERALIDADES DE LOS SEMICONDUCTORES II-VI Y III-V 51 2.1 Compuestos II-VI 51 2.2 Compuestos III-V 55 3 PROCEDIMIENTOS EXPERIMENTALES 59 3.1 Fabricación de Pozos Cuánticos de ZnSe/CdSe 59 3.2 Características de Fabricación de GaInAsSb 61 3.3 Parámetros Experimentales de Fotorreflectancia (FR) 61 4 RESULTADOS Y ANÁLISIS 68 4.1 Energías de los Pozos Cuánticos Ultradelgados de CdSe/ZnSe 68 4.2 Fotorreflectancia de Muestras Cuaternarias de GaInAsSb 79 5 CONCLUSIONES Y PERSPECTIVAS 92 5.1 Conclusiones 92 5.2 Perspectivas 93spa
dc.format.mimetypeapplication/pdfspa
dc.language.isospaspa
dc.rightsDerechos reservados Universidad del Quindíospa
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/spa
dc.titleCaracterización óptica de materiales semiconductores cuaternarios III-V y de baja dimensionalidad II-VIspa
dc.typeTrabajo de grado - Maestríaspa
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessspa
dc.rights.creativecommonsAtribución-NoComercial 4.0 Internacional (CC BY-NC 4.0)spa
dc.subject.armarcHeteroestructuras
dc.subject.armarcTécnica de fotorreflectancia
dc.type.coarhttp://purl.org/coar/resource_type/c_bdccspa
dc.type.driverinfo:eu-repo/semantics/masterThesisspa
dc.type.versioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersionspa
dc.relation.references[48] M. Geddo, F. Martelli. J. Appl. Phys. 84 , 3374 (1998).spa
dc.relation.references[49] D. Yan, H. Pollak. Phys. Rew. B. 52 , 4674(1995).spa
dc.relation.references[50] D. Stifter, M. Schmid, K. Hingerl. Appl. Phys. Lett.spa
dc.description.degreelevelMaestríaspa
dc.description.degreenameMagíster en Ciencias de los Materialesspa
dc.publisher.facultyFacultad de Ciencias Básicas y Tecnologíasspa
dc.publisher.placeArmeniaspa
dc.publisher.programCiencias Básicas y Tecnologías - Maestría en Ciencias de los Materialesspa
dc.type.contentTextspa
dc.type.redcolhttps://purl.org/redcol/resource_type/TMspa
dc.identifier.barcode071512
dc.type.coarversionhttp://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85spa
dc.rights.coarhttp://purl.org/coar/access_right/c_abf2spa


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